标準規範：彩色塗層闆的厚度測量法

彩色塗層闆，用途廣泛（詳細用途請參考文末表格）。爲瞭確保外觀塗層厚度和産品質量的一緻性，必須進行塗層厚度檢測。以下内容詳細介紹瞭彩色塗層闆厚度的檢測方法
。參照文件《GB/T13448-2019》。

1 通則

1.1本方法适用於(yú)彩塗闆塗層厚度的測(cè)定。

1.2可採(cǎi)用下列方法測(cè)定彩塗闆塗層厚度：

a）磁性測(cè)厚儀法：适用於(yú)以冷軋闆、鍍鋅闆爲基闆的彩塗闆塗層厚度的測(cè)定。若塗層厚度低於(yú)3um時則本方法不适用。若塗層爲特殊不平整表面效果則本方法不适用。

b）磁性-渦流測(cè)厚儀法：适用於(yú)各種材料爲基闆的彩塗闆塗層厚度的測(cè)定。若塗層爲特殊不平整表面效果則本方法不适用。

2 原理

2.1磁性測厚儀法

利用電磁場磁阻原理，以流入彩塗基闆的磁通量大小來測(cè)定塗層(céng)厚度。

2.2磁性-渦流測厚儀法

利用磁性-渦流複合探頭在鐵基體表面産生的磁通量和在非磁性金屬鍍層表面産生的渦流場變(biàn)化
，從而同時測(cè)定彩塗闆鍍層和塗層厚度。

3 試驗裝置和材料

3.1磁性測厚儀

3.1.1儀器的最大示值誤(wù)差爲(wèi)士（1+3%标準片厚度）um。

3.1.2已知厚度的标準片（非磁性薄膜），其厚度應與被測(cè)塗層(céng)相近。

3.2磁性-渦流測厚儀

3.5.1儀器的最大示值誤(wù)差爲(wèi)士（1+3%标準片厚度）um。

3.5.2已知厚度的标準片（非磁性薄膜），其厚度應與被測(cè)塗層(céng)相近。

4 試樣制備和試驗環境

1試樣尺寸不小於(yú)75mm?50mm，試樣表面應平整、無油污、無損傷、邊(biān)緣無毛刺。

2試驗在試驗室環境下進行。如有争議時，應将待測(cè)試樣在溫度爲23℃?℃，相對(duì)濕度爲50%

士5%的環(huán)境中至少放置24h後(hòu)再進行試驗
。

5 試驗步驟

5.1磁性測厚儀法

5.1.1儀器校準

5.1.1.1用與待測(cè)試樣化學成分和厚度相同的無塗層基闆作爲調零闆，在其表面幾個不同位置進行儀器調零。當基闆爲鍍鋅闆時
，應在去除鋅層的基闆上調零，零位誤差不應大於(yú)1μm。

5.1.1.2選擇與被測(cè)塗層厚度相近的标準片校準儀器，使其準確(què)指示出标準片的厚度。反複進行調零和校準的操作，直至獲得穩定的零位和标準片厚度讀數。

5.1.1.3在測(cè)量期間應經常進行儀器調(diào)零和校準的操作。

5.1.2 測定

5.1.2.1當彩塗闆基闆爲冷軋闆時，選取距試樣邊緣距離大於(yú)25mm的5個不同位置，用磁性測厚儀直接進行塗層厚度測量，並(bìng)記錄厚度值。

5.1.2.2當彩塗闆基闆爲鍍鋅闆時
，選取距試樣邊(biān)緣距離大於(yú)25mm的5個不同位置，用磁性測厚儀測量鍍鋅層和塗層的總厚度。用對鍍鋅層無腐蝕作用的脫漆劑将塗層去除，在同樣的地方測量鍍鋅層厚度（或用已知鋅層單位面積重量換算成鋅層厚度），總厚度與鍍鋅層厚度之差即爲塗層厚度。

5.2磁性-渦流測厚儀法

5.5.1 儀器校準和準確(què)度驗(yàn)證

5.5.1.1 可由設備(bèi)供應商在設備(bèi)出廠前採(cǎi)用厚度标準片進行校準；也可由設備(bèi)使用者按照設備(bèi)說明書的規定，採(cǎi)用厚度标準片進行儀器的校準。

5.5.1.2 採(cǎi)用厚度标準片或已知塗層厚度的自制标準樣闆，對校準後的儀器進行準確(què)度的驗證試驗。

驗證試驗的準確(què)度和試驗頻度可根據實際需要制訂。制訂驗證試驗的準確(què)度要求時，需同時考慮設備和标準片的準確(què)度。採用本方法進行設備校準的厚度标準樣闆的單位要求爲微米（um），可採用附錄A的方法制作得到鍍層厚度标準樣闆，並(bìng)其将鍍層質量（g/m2）換算爲厚度（um）。

5.5.2 測定

5.5.2.1 選取距試樣邊(biān)緣距離大於(yú)25mm的至少5個不同位置進行測量。爲提高測定結果的代表性，可适當增加測量次數。

5.5.2.2 方法測(cè)定彩塗闆塗層厚度的準確(què)度會受到以下因素影響：

a）試樣的彎曲：應確(què)保待測(cè)試樣平整無彎曲。

b）外來顆粒物：應確(què)保試樣表面和探頭表面清潔(jié)，防止外來顆粒物影響試驗結果
。

c）外部磁場：因磁性探頭測(cè)定結果會受到外部磁場的影響，因此應確(què)保測(cè)定過程中無外部磁場的影響。

d）有金屬填充料的塗層：當彩塗闆塗層中含有金屬填充料時，由於(yú)渦流場會受到金屬填充料的影響，因此測(cè)定結果會受到塗層中金屬填充物成分和含量的影響，測(cè)定時應考慮該影響。

e）基闆的電性能：渦流探頭測定結果會受到基闆導電性能的影響，設備(bèi)應採(cǎi)用補償方式減少影響。

f）探頭壓力：磁性-渦流複合測(cè)頭測(cè)定時的壓力會影響測(cè)定結果，設備(bèi)所帶探頭應有保持探頭壓力恒定的裝置，測(cè)定時應注意此影響。

6 結果的表示

6.1磁性測厚儀法

5個不同測(cè)量部位塗層(céng)厚度的算術平均值，即爲該試樣的塗層(céng)厚度，以微米（um）表示。

6.2 磁性-渦(wō)流測(cè)厚儀法

在所測(cè)量面上至少取5個不同測(cè)量部位的算術平均值，即爲該試樣的塗層(céng)厚度，以微米（um）表示。

7 試驗報告

試驗報告應包括下列内容：

a）採(cǎi)用的試驗标準和協商條款；b）儀器型号；c）試樣信息；d）試驗結(jié)果；e）試驗日期和試驗人員。