色差儀與光譜儀功能上有什麽差異?

光譜(pǔ)儀可以做色差儀可以做的大部分事情，下面列出瞭(le)色差儀無法做到的一些功能。

色差儀

生成光譜圖 (SPD)，這是一種非常有用的工具，可用於(yú)觀察整體光色分布並(bìng)快速評估不穩定的光色行爲。

測(cè)量光的 CRI 或其它渲染指數(TM-30-15、TLCI、CQS、SSI)，因爲它僅獲得 3 種基本波長顔色 (RGB)。(參(cān)見“什麽是 CRI – 顯色指數”)。

評(píng)估同色異譜，因爲它無法訪(fǎng)問由光譜 (SPD) 或 CRI R1-R14 值表示的完整光譜顔色信息。

通常評估與閃爍、藍(lán)光危害和以人爲中心的照明有關(guān)的照明問題。

色差儀受到其結構(gòu)的限制
。相反，具有光譜功能的光譜儀可用於(yú)集成和适應許多情況。

光譜(pǔ)儀和色差儀都可以捕捉和分析光的特性，但光譜(pǔ)儀應用更爲廣(guǎng)泛的。

準確性

如果測量來自色差儀和光譜儀的光，可能會發現它們落在 CIE 色度圖上的 2 個不同點上。在這種情況下，光譜儀将得到更多的信息。此外，光譜儀比色差儀更準確(què)已被充分證明。此外
，主要照明組織 CIE(國際照明委員會)僅認可光譜儀用於(yú)照明制造和研究
。

色差儀精度

色差儀及其三色過濾系統具有固有的局限性。簡而言之，過濾檢測(cè)器進行 CIE 顔色匹配並(bìng)不容易。實際上，正在使用單獨的濾光片來獲取光並(bìng)分離三種顔色波長(寬帶)。此外，這 3 個濾光片通常是從單個多色濾光片切割而成的。這種多色濾光片通常在切割前進行塗層處理。但是塗層並(bìng)不總是均勻地分布在整個表面上，並(bìng)且可能會導緻單個零件的更多不一緻。

畢(bì)竟，需要從3種顔色中獲取數據並(bìng)将它們重新組合在一起以到達顔色圖上的一個點。

“過(guò)濾檢測(cè)器響應以匹配 CIE 顔色匹配函數很困難”——糾正三刺激色度誤差

CIE 顔(yán)色匹配算法光譜(pǔ)儀精度

光譜儀不使用過濾。這意味著(zhe)沒有單獨的顔色處理。它将許多波長切割成一個完整的光譜，非常适合 CIE 顔色匹配算法。簡而言之，它是一個簡單明瞭(le)的系統。

爲瞭(le)更量化地查看差異，該(gāi)行業使用 f1' 度量來衡量精度差異。f1' 是與 CIE 函數的不匹配百分比。

光譜儀：f1′<1%

色差儀：f1′<4-5%

光譜儀本質上更準確，對許多行業至關重要。然而，爲瞭(le)尊重色差儀，多年來随著(zhe)更好的技術(四色矩陣、更好的精密濾光片和改進的 CCD 技術)而發展。總而言之，色差儀準確性對於檢查目的實際上是相當好的，而且色差儀簡單和低廉的價格證明它對於許多人來說仍然是一個不錯跟實用的選擇，這個也許是大多數人選擇色差儀的原因。